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型號
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P-PCT-S
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規格
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內部尺寸(直徑×深)
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26×45cm，圓型試驗箱 |
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外部尺寸(寬×高×深)
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51×44×66cm |
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內容積
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24L |
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重量
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60kg |
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電源
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單相，220V/20A，50/60Hz |
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性能
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溫度範圍
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100℃~132℃ |
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濕度範圍
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100%飽和蒸氣濕度 |
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時間範圍
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000Hr~999Hr |
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測試條件
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溫度121℃ 100%飽和蒸氣濕度 壓力1.04 kg/ cm2 |
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結構
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控制器
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日製 YOKOGAWA UT-150 微電腦控制飽和蒸氣溫度 |
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壓力錶
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指針顯示壓力錶 |
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內外箱材質
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內：SUS#316不?鋼板 外：SUS#304不?鋼板 |
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記錄校驗孔
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機體後方孔１只，可外接專用溫度記錄傳感器記錄溫度值 |
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安全裝置
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採兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置
超溫保護開關
保險絲
安全保護緊急洩壓鈕
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基本配件
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基本安裝配件包
出廠文件
測試置架１組
樣品盤３盤
蒸氣檔片１片
樣品盤把手１支
無污染清潔劑２包 |
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環境＆設施要求
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可容許使用工作環境溫度5℃~30℃
供水（純水）：自行加水
排水：實驗使用後之廢水須排除，管徑：３分管 |
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最主要是測試半導體封裝密封性能的檢測，待測產品被置於嚴苛的溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會由封裝不完全之介面滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。